Лабораторный спектрофотометр Hitachi UH4150
Код товара: 41070
Гарантия 12 месяцев
О товаре Дейтериевая лампа (UV), галогенная лампа (Vis-NIR) с автоюстировкой
Диапазон длин волны: 185 - 3300 нм (UV-Vis-NIR)
Разрешение длины волны: 0,01 нм
Точность длины волны: UV-Vis: ± 0,2 нм, NIR: ± 1 нм
Доставка
Транспортной компанией по РФ и СНГ
Курьером по Москве
Самовывоз из магазина
Оплата
Для юрлиц – переводом на расчётный счёт
Для физлиц – банковской картой онлайн, наложенным платежом и наличными
Для
бизнеса
Аккредитованы на ЭТП
Участвуем в госзакупках по 223-ФЗ и 44-ФЗ
Оказываем помощь в разработке ТЗ
О товаре Дейтериевая лампа (UV), галогенная лампа (Vis-NIR) с автоюстировкой
Диапазон длин волны: 185 - 3300 нм (UV-Vis-NIR)
Разрешение длины волны: 0,01 нм
Точность длины волны: UV-Vis: ± 0,2 нм, NIR: ± 1 нм
Технические характеристики Hitachi UH4150
| Диапазон длин волн | 185 - 3300 нм (UV-Vis-NIR) |
| Детекторы | фотоэлектронный умножитель (UV-Vis), охлаждаемый PbS (NIR) |
| Оптическая система | двойной монохроматор Czerny-Turner (призма + дифракционная решетка) |
| Источники света | дейтериевая лампа (UV), вольфрамовая лампа (Vis-NIR) с автоюстировкой |
| Спектральная ширина щели |
UV-Vis: 0,01 - 8 нм (шаг 0,01 / 0,02 нм) NIR: 0,1 - 36 нм (шаг 0,1 нм) |
| Разрешение длины волны | 0,01 нм |
| Точность длины волны | UV-Vis: ± 0,2 нм, NIR: ± 1 нм |
| Повторяемость длины волны | UV-Vis: ± 0,1 нм, NIR: ± 0,5 нм |
| Скорости сканирования |
UV-Vis: 0,3 - 2400 нм / мин NIR: 0,75 - 6000 нм / мин |
| Диапазон измерений | -2 ~ +5 Abs (без смены эталона) |
| Точность фотометрии | ± 0,002 Abs (0 - 0,5 A) / ± 0,004 Abs (0,5 - 1 A) / ± 0,3 %T (NIST SRM 930) |
| Повторяемость фотометрии | ± 0,001 Abs (0 - 0,5 A) / ± 0,002 Abs (0,5 - 1 A) / ± 0,1 %T (NIST SRM 930) |
| Рассеянный свет |
UV: 0,00008 % (220 нм NaI) Vis: 0,00005 % (340 нм NaNO₂) NIR: 0,025 % (1690 нм CHCl₃) |
| Измерительная система |
дифференциальная система обратной связи Hitachi: измерение отрицательного поглощения измерение пропускания > 100 % двойной контроль: UV-Vis: управление высоким напряжением + щелью NIR: управление щелью + фиксированная щель |
| Оптические компоненты |
четырехгранная дифракционная решетка высокой точности гибридная система (призма + решетка) автоматическая юстировка оптики |
| Память базовых линий |
5 независимых каналов: 1 системный 4 пользовательских |
| Режимы измерений |
поглощение (Abs) пропускание (%T) отражение (%R) энергетические режимы (E(R)/E(S)) |
| Комплектация | спектрофотометр Hitachi UH4150 – 1 шт |
Технические характеристики, внешний вид и комплектация товара могут быть изменены производителем без предварительного уведомления.
Благодарственные письма
Посмотреть все
Сотрудничаем с коммерческими организациями и государственными бюджетными учреждениями.
Работаем по прямому договору и участвуем во всех видах конкурентных процедур в рамках 44-ФЗ и
223-ФЗ. Оказываем помощь в составлении технического задания на оборудование.
Заполните форму и получите всю нужную информацию о выбранном оборудовании в виде коммерческого предложения:
- актуальные цены и сроки поставки;
- информация о скидке;
- наличие на наших складах.
